便携式金属光谱分析仪器注意事项

便携式金属光谱分析仪器根据分子对红外光吸收后得到谱带频率的位置、强度、形状以及吸收谱带和温度、聚集状态等的关系便可以确定分子的空间构型，求出化学建的力常数、键长和键角。从光谱分析的角度看主要是利用特征吸收谱带的频率推断分子中存在某一基团或键，由特征吸收谱带频率的变化推测临近的基团或键，进而确定分子的化学结构，当然也可由特征吸收谱带强度的改变对混合物及化合物进行定量分析。

SPECTRO TEST 便携式金属光谱分析仪器--------卓越的现场金属材料分析专家
新的设计 新的技术 卓越的性能
1、SPECTROTEST 是一台通用的便携式光谱光谱分析仪器，广泛用于金属材料生产、加工和废旧金 属回收。无论对小样品、细丝、曲面或焊缝，无论是在野外或者炼钢平台以及在金属回收现场，SPECTRO TEST 凭借其先进的技术和可靠的性能，都可有卓越的表现。
2、全新等离子体数字化的激发光源是第一个用于火花发射光谱的全数字激发光源。该技术可以大大避免传统技术的弱点，显著提高检测精度和重复性，缩短分析时间。特殊设计的光学系统与实验室光谱仪采用的光绪系统一致，可以记录所有分析波长范围内的谱线，并且具有优异的精确度，稳定性和分辨率。这个光学系统为了适合移动光谱而设计得更加紧凑，光学器件，如全息光栅、CCD检测器等都是完全密封的，使得光学系统不受灰尘和震动等外界因素的影响。
3、ICAL智能逻辑标准化功能可以时刻监控光谱仪的测量系统，保证其处在最佳状态。分析数据由全新的高性能读出系统进行处理，数据处理速度比以前的系统快50倍，大大提高了SPECTRO TEST的分析能力和数据处理能力。使光谱仪免受环境温度和地点变化带来的影响。
4、方便可拔插式的激发枪更换起来非常快捷方便，内置UV光室的激发枪可检测C、P、S、B、As等元素。对于检测管材、线材或者其他形状的材料，有特殊夹具可供选择。夹具更换十分方便。如遇无电源或电源不稳的情况下，SPECTRO TEST 可由电池进行供电，可充电电池可供光谱仪进行几百次的激发，并且可装在小车里或随身携带。这样可使SPECTRO TEST 便携式光谱仪在几乎所在的地方使用。
5、方便移动和转向使仪器小车可以适合长时间使用和频繁移动。安全基座使小车可以和仪器连为一全。符合人体工程学设计，使仪器可以垂直操作，并且有适当的操作高度，如果需要，小车可以分解为业几部分，只需要秀小的空间就可以方便地储存和运输。

1．保持室内干燥，空调和除湿机必须全天开机（保持环境条件 2５±１０℃左右，湿度≤７０％）；
2．保持实验室安静和整洁，不得在实验室内进行样品化学处理， 实验完毕即取出样品室内的样品。
3．经常检查干燥剂颜色，如果兰色变浅，立即更换。
4．根据样品特性以及状态，制定相应的制样方法并制样。
5．测试红外光谱图时，扫描空光路背景信号和样品文件信号， 经傅立叶变换得到样品红外光谱图。根据需要，打印或者保存红外光谱图。
6．实验完毕后在记录本上记录使用情况。
7．设备停止使用时，样品室内应放置盛满干燥剂的培养皿。
8．干燥剂再生：将干燥剂在烘箱内105℃烘干至兰色（约3小 时）即可。
9．将压片模具、KBr晶体、液体池及其窗片放在干燥器内备用。
10．液体池使用NaCl、CaF2、BaF2等晶体很脆易碎，应小心保存。
11．液体池使用的KRS-5晶体剧毒，使用时避免直接接触（戴手 套），打磨KRS-5晶体时避免接触或吸入KRS-5粉末，打磨的废弃物必须妥善处理。

一、操作步骤
1．开机前准备
开机前检查实验室电源、温度和湿度等环境条件，当电压稳定，室温为21±5℃左右，湿度≤65％才能开机。
2．开机
开机时，首先打开仪器电源，稳定半小时，使得仪器能量达到最佳状态。开启电脑，并打开仪器操作平台OMNIC软件，运行Diagnostic菜单，检查仪器稳定性。
3．制样
根据样品特性以及状态，制定相应的制样方法并制样。
4．扫描和输出红外光谱图
测试红外光谱图时，先扫描空光路背景信号（Collect→Background），再扫描样品文件信号（Collect→Sample)，经傅立叶变换得到样品红外光谱图。
5．关机
（1）关机时，先关闭OMNIC软件，再关闭仪器电源，最后关闭计算机并盖上仪器防尘罩。
（2）在记录本记录使用情况。

二、注意事项
1．测定时实验室的温度应在15～30℃，所用的电源应配备有稳压装置。
2．为防止仪器受潮而影响使用寿命，红外实验室应保持干燥（相对湿度应在65%以下）。
3．样品的研磨要在红外灯下进行，防止样品吸水。
4．压片用的模具用后应立即把各部分擦干净，必要时用水清洗干净并擦干，置干燥器中保存，以免锈蚀。
5．OMNI采样器使用过程中必须注意以下几点：
（1）样品与Ge晶体间必须紧密接触，不留缝隙。否则红外光射到空气层就发生衰减全反射，不进入样品层。
（2）对于热、烫、冰冷、强腐蚀性的样品不能直接置于晶体上进行测定，以免Ge晶体裂痕和腐蚀。
（3）尖、硬且表面粗糙的样品不适合用OMNI采样器采样，因为这些样品极易刮伤晶片，甚至使其碎裂。