杂散光对光谱分析仪器的影响

  杂散光是所有光学仪器系统中固有的一种有害的非检测光，对分析仪器的测量精度影响很大。对于光谱分析仪器系统而言，杂散光的影响更加不可忽略。在光谱分析中，杂散光是形成系统背景光谱的主要原因，若背景光谱较强，则可能影响到微弱光信号的检测，大大地降低系统的信噪比，同时会直接影响测量信号的准确度及单色性。

目前市场上大多数光谱分析仪器制造商所提供的快速CCD光谱分析分光都采用平面光栅与多块聚光镜的组合，会产生极大的杂散光，对测量结果影响很大。新一代CMS-3S快速光谱分析仪器，采用世界先进的全息凹面衍射光栅和东芝高性能的线性CCD陈列探测器。优化了高性能CCD与全息凹面平场衍射光栅的匹配设计，通过求解关于不同像差项的非线性方程组来达到消除具体像差、补偿像面的目的，只需一个光学元件，很好的解决了大多数厂家对快速光谱仪测试过程中产生极大杂散光，使光学匹配更完美，系统所获得的光谱更纯，线性更好。

杂散光的控制远远达不到用全息凹面平场衍射光栅只需一个光学元件的超低效果。除了低杂散光，采用全息凹面平场衍射光栅对提高其热稳定性也有很好的帮助。在很宽的温度范围内测量结果几乎没有波长漂移,并且光谱谱峰有良好的保持效果。

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